AbstractElectron cyclotron absorption measurements by the multiple-channel millimeter wave system at the electron gyro-frequency have been used for temporal and spatial determination of the optical thickness and electron pressure in tokamak devices. The instrumentation and technical aspects are reviewed in this paper.
電子サイクロトロン周波数における多チャンネルミリ波システムによる電子サイクロトロン吸収測定は、トカマク装置における光学的厚さと電子圧力の時間的・空間的決定に使用されてきた。本論文では、その計測機器と技術的側面について概説する。