Efficient production of highly charged (z>45) high-energy (up to ∼20 MeV) Ta ions by the interaction of a short-wavelength subnanosecond laser pulse with a solid target has been demonstrated by experimental studies of ion emission from plasma generated by the PALS high-energy short-wavelength (3ω0) iodine laser system (⩽0.25 kJ, 0.4 ns, 0.438 μm, ⩽1016 W cm−2) in Prague. The plasma was investigated by means of ion diagnostics based on the time-of-flight method, i.e. ion collectors (ICs) and an electrostatic ion-energy analyser equipped with a windowless electron multiplier serving as an ion current detector. Five ICs were located at different angles with respect to the target normal. The existence of fast highly charged ions, as well as thermal and slow ions, has now been demonstrated for plasma produced by short-wavelength high-energy laser pulses, as it previously was for long-wavelength lasers
短波長サブナノ秒レーザーパルスと固体ターゲットとの相互作用による、高電荷（z>45）高エネルギー（最大∼20 MeV）Taイオンの効率的な生成が、プラハのPALS高エネルギー短波長（3ω0）ヨウ素レーザーシステム（⩽0.25 kJ、0.4 ns、0.438 μm、⩽10¹⁶ W cm⁻²）によって生成されたプラズマからのイオン放出の実験的研究によって実証された。プラズマは、飛行時間法に基づくイオン診断、すなわちイオンコレクター（IC）および窓なし電子増倍管を備えた静電イオンエネルギー分析器を用いて調査された。5つのICはターゲット法線に対して異なる角度に配置された。高速の高電荷イオン、ならびに熱的イオンおよび低速イオンの存在は、長波長レーザーについて以前に実証されたように、短波長高エネルギーレーザーパルスによって生成されたプラズマについても現在実証されている。