It is pointed out that the accidentally resonant charge-exchange reaction, O+ + H0 ⇄ O0 + H+, is an important mechanism for causing the loss of singly charged oxygen ions from oxygen-contaminated hydrogen plasmas. Results of a Monte Carlo simulation are presented which show that the fraction of oxygen lost because of charge exchange exceeds 1/3 when the parameters ne ∼ 1013 cm−3, nH0 ∼ 1011 cm−3 and Te ∼ 3 eV are attained. This process may be important in determining impurity losses from the edge plasmas of tokamaks.
酸素で汚染された水素プラズマからの一価酸素イオンの損失を引き起こす重要なメカニズムとして、偶然共鳴電荷交換反応 O+ + H0 ⇄ O0 + H+ が指摘されている。ne ∼ 1013 cm−3、nH0 ∼ 1011 cm−3、Te ∼ 3 eV のパラメータが達成される場合、電荷交換による酸素の損失割合が1/3を超えることを示すモンテカルロシミュレーションの結果を提示する。このプロセスは、トカマクの周辺プラズマからの不純物損失を決定する上で重要である可能性がある。