Line-intensity ratio measurements of the electron temperature have been successfully made on the CTCC-II spheromak. The electron temperatures obtained in the core plasma are 20-80 eV, which are consistent with the values obtained by Thomson scattering. This measurement has the advantage of giving the time evolution of the electron temperature within a single plasma discharge. In the CTCC spheromak, intermittent instability (stepwise instability) and its relaxation are frequently observed. During the stepwise instability and its relaxation cycles, increase and decrease in the temperature are observed in the current-profile-peaking phase and the nonlinear saturation phase of the n=2 mode. It is demonstrated that the temperature profile in the peripheral plasma can be controlled by an additional magnetic field (choking field), which can reduce the error field in the entrance hole of the flux conserver.
CTCC-IIスフェロマクにおいて、電子温度の線強度比測定が成功裏に行われた。コアプラズマで得られた電子温度は20〜80 eVであり、トムソン散乱によって得られた値と一致している。この測定法は、単一のプラズマ放電内で電子温度の時間発展を与えるという利点を有する。CTCC-IIスフェロマクでは、間欠的不安定性（段階的不安定性）とその緩和が頻繁に観測される。段階的不安定性とその緩和サイクルの間、電流分布ピーキング相およびn=2モードの非線形飽和相において、温度の増加と減少が観測される。周辺プラズマの温度分布は、追加磁場（チョーキング磁場）によって制御可能であることが実証された。この追加磁場は、フラックスコンサーバーの入口における誤差磁場を低減することができる。