Excitation rates for plasma impurity measurements by x‐ray diagnostics
K. W. Hill, M. Bitter, S. von Goeler, H. Hsuan, R. Hulse, L. C. Johnson, P. Lasalle, K. S. McGuire, A. Murphy, J. E. Stevens, R. M. Wieland1988年Review of Scientific InstrumentsIF 1.6出版社
