Temporally resolved Schwarzschild microscope for the characterization of extreme ultraviolet emission in laser-produced plasmas

Y. Tao, M. Nakai, H. Nishimura, S. Fujioka, T. Okuno, T. Fujiwara, N. Ueda, N. Miyanaga, Y. Izawa2004年Review of Scientific InstrumentsIF 1.6 出版社

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