High sensitivity imaging Thomson scattering for low temperature plasma
H. J. van der Meiden, R. S. Al, C. J. Barth, A. J. H. Donné, R. Engeln, W. J. Goedheer, B. de Groot, A. W. Kleyn, W. R. Koppers, N. J. Lopes Cardozo, M. J. van de Pol, P. R. Prins, D. C. Schram, A. E. Shumack, P. H. M. Smeets, W. A. J. Vijvers, J. Westerhout, G. M. Wright, G. J. van Rooij2008年Review of Scientific InstrumentsIF 1.6出版社
