We review the potential of x-ray scattering as a dense plasma diagnostic and present data taken from experiments in which x-ray scattering from dense plasmas is developed as a diagnostic tool. In one type of experiment the scattered photons are detected as a function of angle using direct detection onto a CCD chip. Such experiments are designed primarily to observe the static ion–ion structure factor, which is expected to dominate the scattering for moderate to high Z plasmas at a few electronvolts temperature. In a second type of experiment we have used a curved crystal to observe spectrally resolved x-ray scattering at a fixed angle. This experiment was designed to observe the dynamical structure factor of the plasma.
我々は、X線散乱の高密度プラズマ診断法としての可能性を検討し、X線散乱を診断ツールとして発展させた実験から得られたデータを提示する。あるタイプの実験では、散乱光子をCCDチップへの直接検出により角度の関数として測定する。このような実験は主に、数電子ボルトの温度の中等度から高Zプラズマにおいて散乱を支配すると予想される静的イオン-イオン構造因子を観測するために設計されている。第二のタイプの実験では、湾曲結晶を用いて固定角度での分光分解X線散乱を観測した。この実験は、プラズマの動的構造因子を観測するために設計されたものである。