A novel method to measure net secondary electron emission yield due to primary electron irradiation from a tokamak scrape-off layer plasma is described. High emission coefficients close to unity are obtained independent of the electron temperature. Enhanced elastic backscattering of low-energy primary electrons, already identified as an important phenomenon in many other fields of research, is likely to explain the high yields.
トカマク・スクレイプオフ層プラズマからの一次電子照射による正味の二次電子放出収率を測定する新しい方法について述べる。電子温度に依存せず、1に近い高い放出係数が得られる。低エネルギー一次電子の増強された弾性後方散乱は、他の多くの研究分野で既に重要な現象として認識されているが、この高い収率を説明する可能性が高い。