AbstractElectromagnetic waves of medium power (P = 110 W) in the submillimeter wavelength range (f= 354 GHz) are generated in long pulses (τ = 0.6 s) by the GYROTRON FU-II and they have been applied to plasma scattering measurements in compact helical system plasma. Use of a gyrotron as a power source improves the S/N ratio of the measurement. The results of low frequency density fluctuations correspond to those of reflectometry. A new transmission line is designed for conversion of gyrotron outputs into a high quality beam. Analysis using Huygen's equation supports the view that this system can produce a high quality beam. The final goal is to improve the performance of the scattering measurement by applying an optimal probe beam.
中程度の出力（P = 110 W）の電磁波が、サブミリ波長域（f = 354 GHz）において、ジャイロトロンFU-IIにより長パルス（τ = 0.6 s）で生成され、コンパクトヘリカルシステムプラズマにおけるプラズマ散乱測定に応用されている。ジャイロトロンを出力源として使用することで、測定のS/N比が向上する。低周波密度揺動の結果は、反射測定の結果と対応している。ジャイロトロンの出力を高品質ビームへ変換するための新しい伝送線路が設計されている。ホイヘンスの方程式を用いた解析により、このシステムが高品質ビームを生成できることが支持されている。最終的な目標は、最適なプローブビームを適用することにより、散乱測定の性能を向上させることである。