In the RFX-mod reverse field pinch (RFP) experiment, electron temperature profiles often feature structures and fluctuations at fine scale. The present work aims at characterizing their occurrence and their localization, in particular by linking them to underlying tearing modes magnetic islands. The confinement characteristics are discussed, identifying analogies with respect to high scale Te structures. Finally, high frequency magnetic activity (i.e. microtearing instabilities) is confirmed to be closely correlated to the presence and proximity of temperature gradients.
RFX-mod反転磁場ピンチ（RFP）実験において、電子温度プロファイルはしばしば微細スケールの構造と変動を示す。本研究は、それらの発生と局在を特徴づけること、特にそれらを背景にあるテアリングモードの磁気島と関連付けることを目的とする。閉じ込め特性について考察し、高スケールのTe構造との類似性を特定する。最後に、高周波磁気活動（すなわちマイクロテアリング不安定性）が、温度勾配の存在およびその近接性と密接に相関していることが確認される。