Core electron temperature measurements have been performed in the large, high-current RFX reversed field pinch experiment (a = 0.46 m, R = 2 m, target plasma current = 2 MA) with the double filter technique. With this technique the soft x-ray emission is measured by two Si detectors, covered by different Be-filters, and viewing the same region of the plasma. By choosing the filters in such a way that only the emission from the continuum part of the spectrum is measured, the ratio of the two signals is a function of the highest electron temperature along the line of sight of the detectors. With this diagnostic, the electron temperature has been measured in RFX with a bandwidth of approximately 2 kHz. This allows the direct measurement, for the first time in a RFP on a single shot basis, of coherent oscillations, associated with relaxation events and showing under some conditions a sawtooth-like character. The measurements of electron temperature obtained with this method are in good agreement with those performed with other diagnostics.
大型の高電流RFX逆転磁場ピンチ実験装置（a = 0.46 m、R = 2 m、目標プラズマ電流 = 2 MA）において、二重フィルター法を用いて電子温度測定が実施された。この手法では、軟X線放射が、異なるBeフィルターを備えた2つのSi検出器によって測定され、両検出器はプラズマの同一領域を観測する。フィルターは連続スペクトル部分のみが測定されるように選択され、その結果、2つの信号の比は検出器の視線に沿った最高電子温度の関数となる。この診断法により、RFXにおいて約2 kHzの帯域幅で電子温度が測定された。これにより、RFPにおいて初めて、単一ショットベースで、緩和現象に伴い、特定の条件下では鋸歯状の特徴を示すコヒーレントな振動の直接測定が可能となった。この方法で得られた電子温度測定結果は、他の診断法による測定結果と良好な一致を示している。