The hot-tail (H-T) effect in disruption of impurity injections is considered. The contribution of the H-T effect to runaway electron (RE) current, which arises from fast thermal quenching, is studied using a two-dimensional Fokker–Planck simulation. It is found that in a high-density plasma the total RE current is reduced owing to the high collisionality. We also found that if the thermal quench is fast enough to invoke the H-T effect, the effect produces more seed REs than when the H-T effect is excluded even in high-density plasmas. In the high-density region () with fast thermal quenching, nevertheless the increment of the seed REs due to the H-T effect is generally small (tens of milliamperes) while the increment of the total RE current reached 2 MA owing to the avalanche effect.
不純物入射のディスラプションにおけるホットテール（H-T）効果を考察する。高速熱クエンチに起因するランナウェイ電子（RE）電流へのH-T効果の寄与を、二次元Fokker–Planckシミュレーションを用いて研究する。高密度プラズマでは、高い衝突頻度により全RE電流が減少することが見出された。また、熱クエンチがH-T効果を引き起こすのに十分速い場合、その効果は高密度プラズマにおいてもH-T効果を除外した場合よりも多くのシードREを生成することも見出された。しかしながら、高速熱クエンチを伴う高密度領域()では、H-T効果によるシードREの増加は一般に小さい（数十ミリアンペア）一方、全RE電流の増加はアバランシェ効果により2 MAに達した。