Edge effects during ICRF heating experiments are reviewed experimentally. It is demonstrated that an RF mechanism occurring in the scrape off layer is responsible for the local electron temperature and density increase. The authors show that the experimental observations cannot be explained by simple linear RF mechanisms occurring at the edge of the plasma.
ICRF加熱実験中の周辺部効果を実験的に検討した。スクレイプオフ層で発生するRF機構が、局所的な電子温度と密度の上昇の原因であることが実証された。著者らは、実験的観測はプラズマ周辺部で発生する単純な線形RF機構では説明できないことを示した。