The power deposition profile in the ion cyclotron range of frequencies (ICRF) has been investigated experimentally in JET by means of a square wave modulated RF perturbation. The study has been conducted in D(H) and D(3He) plasmas for two heating scenarios. In D(3He) plasmas and for central heating in a scenario where mode conversion to Bernstein waves is accessible, the direct power deposition profile on electrons has been derived. It accounts for 15% of the total coupled power and extends over 25% of the minor radius. Outside the RF power deposition zone, the electron thermal diffusivity χe inside the inversion radius surface (ri) can be estimated through observation of the diffusive electronic transport. In discharges without monster sawteeth and for a low central temperature gradient (∇Te(r ≤ ri) ≤ ∇Te(r ≥ ri) ≈ 5 keV·m−1) the value obtained is small (≈ 0.24 ± 0.05 m2·s−1), typically ten times ower than χe values deduced from heat pulse propagation in similar discharges at radii larger than the inversion radius. For the D(H) minority heating scheme, a large fraction of the ICRF modulated power is absorbed by minority ions, and the minority tail is modulated with a characteristic ion-electron (i–e) slowing-down time. In this scheme, electron heating occurs only through collisions with the minority ion tail and no modulation of the electron temperature is observed in sawtoothing discharges. This is interpreted as a consequence of the long i–e equipartition time, acting as an integrator for the modulated ICRF signal. Finally, a correlation between the time of the sawtooth crash and the periodic turn-off of the ICRF power is found and its consequence for modulation experiments is reviewed.
イオンサイクロトロン周波数帯域（ICRF）におけるパワー堆積プロファイルが、矩形波変調RF摂動を用いてJETにおいて実験的に調査された。この研究は、D(H)およびD(3He)プラズマにおける2つの加熱シナリオで実施された。D(3He)プラズマにおいて、バーンスタイン波へのモード変換が可能な中心加熱シナリオでは、電子への直接パワー堆積プロファイルが導出された。これは全結合パワーの15%を占め、小半径の25%にわたって広がる。RFパワー堆積領域の外側では、反転半径（ri）内側の電子熱拡散係数χeが、拡散性電子輸送の観測を通じて推定できる。モンスター・ソートなしの放電において、中心温度勾配が低い場合（∇Te(r ≤ ri) ≤ ∇Te(r ≥ ri) ≈ 5 keV·m−1）、得られる値は小さく（≈ 0.24 ± 0.05 m2·s−1）、これは反転半径より外側の同様の放電における熱パルス伝播から推定されたχe値よりも典型的に10倍小さい。D(H) minority加熱スキームでは、ICRF変調パワーの大部分がminorityイオンに吸収され、minorityテールは特性イオン-電子（i–e）減速時間で変調される。このシナリオでは、電子加熱はminorityイオンテールとの衝突を通じてのみ発生し、ソート状放電では電子温度の変調は観測されない。これは、長いi–e均等化時間が変調ICRF信号の積分器として作用する結果として解釈される。最後に、ソートクラッシュのタイミングとICRFパワーの周期的遮断との間の相関が発見され、その変調実験への影響が検討された。