The dynamical response of a soft X-ray emission profile to different external perturbations - gas feed, impurity injection, RF power, surface loop voltage - has been studied on the TCA tokamak and analysed using a single technique. The frequency dependence of the response has been exploited to distinguish between the dominant transport processes. Remarkably similar phase response profiles were obtained with different stimuli; they show a link with sawtooth activity. The model that most plausibly explains these experimental observations requires diffusive transport with a diffusive coefficient locally modulated by the perturbation
軟X線放射プロファイルの動的応答が、異なる外部摂動（ガス供給、不純物入射、RFパワー、表面ループ電圧）に対してTCAトカマクで研究され、単一の手法を用いて解析された。応答の周波数依存性を利用して、支配的な輸送過程を区別した。異なる刺激によって著しく類似した位相応答プロファイルが得られ、それらは鋸歯状活動との関連を示す。これらの実験的観測を最ももっともらしく説明するモデルは、摂動によって局所的に変調される拡散係数を伴う拡散輸送を必要とする。