The effect of electron temperature perturbation induced by local heating on the tearing mode activity is investigated by simulations based on the reduced set of resistive MHD equations, with the transport equation of electron temperature. The effect of poloidal plasma rotation is also considered in the simulations. It is shown that the local heating can suppress the m=2 tearing mode instability when the O point of the rotating magnetic island is effectively heated. While perpendicular thermal conduction imposes a lower limit on the degree of localization of the achievable heating, the ratio of parallel to perpendicular conduction is shown to determine the heating power necessary for complete stabilization of the tearing mode
局所加熱によって誘起される電子温度摂動がティアリングモード活動に及ぼす効果を、電子温度の輸送方程式を伴う抵抗性MHD方程式の簡約セットに基づくシミュレーションによって調べた。ポロイダルプラズマ回転の効果もシミュレーションにおいて考慮される。回転する磁気島のO点が効果的に加熱されるとき、局所加熱がm=2ティアリングモード不安定性を抑制できることが示される。垂直熱伝導は達成可能な加熱の局所化の程度に下限を課す一方、平行熱伝導と垂直熱伝導の比が、ティアリングモードの完全な安定化に必要な加熱パワーを決定することが示される。