Quiescent double barrier (QDB) conditions often form when an internal transport barrier is created with high-power neutral-beam injection into a quiescent H-mode (QH) plasma. These QH-modes offer an attractive, high-performance operating scenario for burning plasma experiments due to their quasi-stationarity and lack of edge localized modes. Our initial experiments and modelling using ECH/ECCD in QDB shots were designed to control the current profile and, indeed, we have observed a strong dependence on the q-profile when EC-power is used inside the core transport barrier region. While strong electron heating is observed with EC power injection, we also observe a drop in the other core parameters, namely ion temperature and rotation, electron density and impurity concentration. At onset and termination of the EC pulse, dynamically changing conditions are induced that provide a rapid evolution of Te/Ti profiles accessible with 0.3 < (Te/Ti)axis < 0.8 observed in QDB discharges. We are exploring the correlation and effects of observed density profile changes with respect to these time-dependent variations in the temperature ratio. Increases in the measured ion thermal and particle diffusivities inside the barrier region during an ECH pulse correlate with electron heating and a rise in the core Te/Ti ratio as the ion temperature and density profiles flatten with this change in transport. The change in transport is consistent with a destabilization of ITG turbulence as inferred from the reduction of the stability threshold due to the change in Te/Ti.
クエセント二重障壁（QDB）条件は、クエセントHモード（QH）プラズマへの高パワー中性粒子ビーム入射によって内部輸送障壁が生成される際に、しばしば形成される。これらのQHモードは、準定常性と周辺局在モードの欠如により、燃焼プラズマ実験にとって魅力的な高性能運転シナリオを提供する。QDB放電におけるECH/ECCDを用いた我々の初期実験とモデリングは、電流分布の制御を目的として設計され、実際、ECパワーがコア輸送障壁領域内部で使用されるとき、q分布への強い依存性が観測された。ECパワー入射により強い電子加熱が観測される一方で、イオン温度、回転、電子密度、不純物濃度といった他のコアパラメータの低下も観測される。ECパルスの開始時と終了時には、動的に変化する条件が誘起され、QDB放電において観測される0.3 < (Te/Ti)軸 < 0.8の範囲でTe/Ti分布の急速な発展がもたらされる。我々は、観測された密度分布の変化と、これらの時間依存的な温度比の変動との相関関係および影響を調査している。ECHパルス中の障壁領域内部における測定されたイオン熱拡散係数と粒子拡散係数の増加は、電子加熱およびコアTe/Ti比の上昇と相関し、この輸送の変化に伴ってイオン温度分布と密度分布が平坦化する。この輸送の変化は、Te/Tiの変化による安定性閾値の低下から推測されるITG乱流の不安定化と一致している。