In principle, it is not possible to interpret a Langmuir probe in a strong magnetic field since the modelling of non-ambipolar cross-field transport is uncertain. In some circumstances the portion of the probe I-V characteristic below floating potential may not be contaminated by magnetic field effects, and it can be possible to extract ne and Te from such data; unfortunately, it is not known with any certainty when this situation holds. By using a special probe with a small collecting element (pin) just in front of the principal collecting element (plate) it is possible to correct for the influence of the magnetic field, and to use simple single-probe theory to extract ne and Te. The uncertain influence of the non-ambipolar cross-field transport is entirely circumvented. Using such a probe it is possible to also use the part of the I-V characteristic above floating potential; thus, if the electron distribution is non-Maxwellian, that can be measured.
原理的には、強磁場中のラングミュアプローブを解釈することは不可能である。なぜなら、非両極性の横断磁場輸送のモデル化が不確かだからである。ある状況では、プローブのI-V特性の浮遊電位以下の部分は磁場効果による汚染を受けない可能性があり、そこからneとTeを抽出できるかもしれない。しかし、その状況がいつ成り立つかは確実には知られていない。主たる集電部（プレート）の直前に小さな集電部（ピン）を持つ特殊なプローブを用いることで、磁場の影響を補正し、単純な単一プローブ理論を用いてneとTeを抽出することが可能になる。非両極性の横断磁場輸送の不確かな影響は完全に回避される。このようなプローブを用いれば、I-V特性の浮遊電位以上の部分も利用でき、したがって電子分布が非マクスウェル型である場合、それを測定することができる。