Radially resolved spectroscopy has been used to measure the radial distribution of impurity ions (O III-O V and C III-CVI) in the EXTRAP-T2 reversed field pinch (RFP). The radial profile of the emission is reconstructed from line emission measured along five lines of sight. The ion density profile is the fitted quantity in the reconstruction of the brightness profile and is thus obtained directly in this process. These measurements are then used to adjust the parameters in transport calculations in order to obtain consistency with the observed ion density profiles. Comparison between model and measurements show that a radial dependence in the diffusion is needed to explain the measured ion densities.
半径方向分解分光法を用いて、EXTRAP-T2逆転磁場ピンチにおける不純物イオン（O III-O VおよびC III-C IV）の半径方向分布を測定した。5本の視線に沿って測定された発光から発光の半径方向プロファイルを再構成した。イオン密度プロファイルは、輝度プロファイルの再構成におけるフィッティング量であり、これにより直接得られる。これらの測定値は、輸送計算におけるパラメータを調整するために使用され、観測されたイオン密度プロファイルと一致するようにした。モデルと測定値の比較から、測定されたイオン密度を説明するには、拡散の半径方向依存性が必要であることが示された。