A new method for obtaining a transient ('pulse') electron heat diffusivity (χep) in the radial region 0.38 < r/a < 0.56 in TFTR L mode discharges is presented. Small electron temperature perturbations were caused by single bursts of injected impurities which radiated and cooled the plasma edge. A case of iron injection by laser ablation was found to be more definitive than a supporting helium gas puff case. In this new 'cold pulse' method, the authors concentrate on modelling just the electron temperature perturbations, tracked with electron cyclotron emission diagnostics, and on being able to justify separation of the perturbations in space and time from the cooling source. This χep is obtained for these two cases to be χep = (6.0 m2/s ± 35%) ~ 4χe (power balance), which is consistent with but more definitive than results from other studies that are more susceptible to ambiguities in the source profile
TFTRのLモード放電における径方向領域0.38 < r/a < 0.56での過渡的（「パルス状」）電子熱拡散率（χep）を求める新しい方法を提示する。小さな電子温度摂動は、プラズマ周辺部に注入され放射冷却を引き起こす不純物の単一バーストによって引き起こされた。レーザーアブレーションによる鉄注入のケースは、補助的なヘリウムガス注入のケースよりも決定的であることが判明した。この新しい「コールドパルス」法では、著者らは電子サイクロトロン放射を用いて追跡された電子温度摂動のみのモデル化に集中し、摂動の空間的・時間的な分離を冷却源から正当化することに重点を置いている。このχepは、これら2つのケースについてχep = (6.0 m²/s ± 35%) ~ 4χe（パワーバランス値）として得られ、これは他の研究結果と一致するが、ソースプロファイルの不確実性の影響を受けやすい他の研究結果よりも決定的である。