Transient transport experiments are performed in LHD plasma with electron internal transport barrier (e-ITB). Evidence for a reduction of electron heat diffusivity inside the ITB is observed from cold and heat pulse propagations. The observed enhancement of the cold pulse peak is explained by the temperature dependent electron heat diffusivity. The heat diffusivity inside the ITB decreases with an increase in the electron temperature in LHD.
LHDプラズマにおいて、電子内部輸送障壁(e-ITB)を伴う過渡的輸送実験が実施された。e-ITB内部における電子熱拡散率の低減の証拠が、冷パルスおよび熱パルスの伝播観測から得られた。e-ITB内部での電子熱拡散率の低減は、電子温度勾配の増大に伴って観測された。冷パルスおよび熱パルスの伝播の観測から、e-ITB内部での電子熱拡散率の低減の証拠が得られた。e-ITB内部での電子熱拡散率の低減は、電子温度勾配の増大に伴って観測された。LHDにおける電子内部輸送障壁(e-ITB)の内部での電子熱拡散率の低減が、冷パルスおよび熱パルスの伝播の観測から明らかになった。e-ITB内部での電子熱拡散率の低減は、電子温度勾配の増大に伴って観測された。