Plasmas with an electron internal transport barrier (ITB), which is characterized by peaked electron temperature profiles, are obtained in the JT-60U tokamak and in the large helical device (LHD) when the electron cyclotron heating (ECH) is focused on the magnetic axis. The maximum values of , where R is the major radius and is the scale length of the electron temperature gradient, are similar for the LHD and JT-60U ITB plasmas. However, there is a clear jump of observed in LHD but not in JT-60U in the ECH power scan. This result is consistent with the fact that the trigger mechanism of the electron ITB is the fast transition of the radial electric field from a small negative Er to a large positive Er in LHD and a change of the magnetic shear from positive to negative is required for the formation of the electron ITB in JT-60U. There are also differences in the electron temperature profiles inside the ITB. The flattening of the electron temperature profile inside the strong ITB could be explained by the sharp increase of q values observed in JT-60U, while no flattening of the electron temperature profile is observed in LHD, where the central q values stay low.
電子内部輸送障壁（ITB）を有するプラズマは、電子サイクロトロン加熱（ECH）を磁気軸に集束した際に、JT-60Uトカマクおよび大型ヘリカル装置（LHD）の双方で得られており、その特徴として尖った電子温度分布が観測される。ここで、Rは主半径、LTeは電子温度勾配のスケール長を表すが、これらの最大値はLHDとJT-60UのITBプラズマで類似している。しかしながら、ECHパワー走査において、LHDでは明確なジャンプが観測されるのに対し、JT-60Uでは観測されない。この結果は、LHDにおける電子ITBのトリガー機構が、径方向電場Erの小さな負の値から大きな正の値への急速な遷移であるのに対し、JT-60Uにおける電子ITBの形成には磁気シアの正から負への変化が必要であるという事実と整合的である。また、ITB内部の電子温度分布にも差異が見られる。強いITB内部の電子温度分布の平坦化は、JT-60Uで観測されるq値の急激な上昇によって説明され得る一方、LHDでは中心q値が低いまま維持されるため、電子温度分布の平坦化は観測されない。