The influence of dominant electron heating on internal transport barriers (ITBs) was investigated in JT-60U. The electron cyclotron waves were mainly utilized in order to extend the experimental space into a dominant electron heating regime. The experiments were carried out on both reversed magnetic shear (RS) and positive magnetic shear (PS) plasmas. It was found that in RS plasmas clear ITBs in Te, Ti and ne profiles remained even under dominant electron heating. Energy confinement in excess of twice the H-mode scaling has been obtained in the regime. On the other hand, it was found that in PS plasmas the Ti ITB was degraded by dominant electron heating.
電子加熱が内部輸送障壁（ITB）に及ぼす影響をJT-60Uにおいて調べた。電子サイクロトロン波を主に用いて、実験領域を電子加熱が支配的な領域へと拡張した。実験は、反転磁気シア（RS）および正磁気シア（PS）の両方のプラズマで実施した。RSプラズマでは、電子加熱が支配的な条件下でもTe、Ti、ne分布における明確なITBが維持されることが見出された。この領域では、Hモードスケーリングの2倍を超えるエネルギー閉じ込めが達成された。一方、PSプラズマでは、電子加熱が支配的になるとTiのITBが劣化することが見出された。