AbstractA three-dimensional complex trajectory is imposed on the heavy ion beam probe (HIBP) particle orbits in heliotron/torsatron devices. A pair of two-dimensional beam deflectors for primary and secondary beam lines are equipped in the Compact Helical System (CHS) HIBP, which makes it possible to measure the plasma potential at almost all plasma radii. A plasma observation point is determined by a set of four deflector voltages. Experimental verification for these observation points is necessary in such a complex configuration. In this study, a movable detector and a gas ionization method have been used to find these deflector voltages. Calibration procedures for these methods are described in detail. The movable detector is also used to optimize the focusing condition of the primary beam in the plasma region.
ヘリオトロン/トルサトロン装置における重イオンビームプローブ（HIBP）粒子軌道には、3次元的な複雑な軌道が課せられる。コンパクトヘリカルシステム（CHS）HIBPには、一次ビームラインおよび二次ビームライン用の2次元ビーム偏向器が装備されており、これによりほぼ全てのプラズマ半径位置でのプラズマ電位の測定が可能となる。プラズマ観測点は、4つの偏向器電圧の組み合わせによって決定される。このような複雑な配置においては、これらの観測点の実験的検証が必要である。本研究では、可動検出器とガスイオン化法を用いて、これらの偏向器電圧を決定した。これらの方法の較正手順を詳細に記述する。また、可動検出器は、プラズマ領域における一次ビームの集束条件を最適化するためにも使用された。