A transport model for the electron and ion temperatures and plasma density, based on the conservation of the temperature and pressure profiles (the so-called 'canonical profiles transport model' (CPTM)), is applied to simulate both Ohmic and NBI discharges in MAST. This model is justified by the plasma pressure profiles analysis for MAST. It is shown that these profiles tend to be conserved in the gradient zone during the discharge evolution and under variation of the plasma density and deposited power. A comparison of the results of calculations with the CPTM with experimental data is carried out. Examples of transport analysis for some MAST shots are presented.
電子温度とイオン温度、およびプラズマ密度に対する輸送モデルは、温度と圧力分布の保存（いわゆる「カノニカル分布輸送モデル」(CPTM)）に基づいており、MASTにおけるオーミック放電とNBI放電の両方をシミュレーションするために適用される。このモデルは、MASTにおけるプラズマ圧力分布の解析によって正当化される。これらの分布は、放電の時間発展中およびプラズマ密度と投入パワーの変化にわたって、勾配領域において保存される傾向があることが示される。CPTMを用いた計算結果と実験データとの比較が行われた。いくつかのMASTショットに対する輸送解析の例が提示される。