We measured single event effects (SEEs) in 40 nm and 65 nm Static Random Access Memories (SRAMs) exposed to the D–T fusion neutron environment of the JET tokamak during the DTE-3 campaign (September–October 2023), while also characterizing the neutron spectrum seen by the devices. Using consolidated JET neutron production data, the measured SEE rates show good agreement with predictions based on the measured spectra and independently determined SRAM sensitivity parameters from thermal and monoenergetic neutron tests. These results extend the validation of our spectrum-based SEE prediction methodology, previously demonstrated in a D–D fusion neutron environment in 2021, to a D–T fusion neutron field. The novelty of this work is therefore the first experimental validation of this complete prediction approach in a D–T fusion environment, using real-time neutron spectrometry and independent device sensitivity data, rather than a new SEE model. The experiments also show that a local B4C shield reduces the bit-flip rate by absorbing thermal neutrons, and we discuss the conditions under which such shielding can improve electronics reliability in tokamak and accelerator neutron environments.
我々は、JETトカマクのDTE-3キャンペーン（2023年9月～10月）中にD–T核融合中性子環境に曝露された40 nmおよび65 nmの静的ランダムアクセスメモリ（SRAM）におけるシングルイベント効果（SEE）を測定し、同時にデバイスが受ける中性子スペクトルを特性評価した。確立されたJET中性子生成データを用いて、測定されたSEE率は、測定スペクトルと熱中性子および単色中性子試験から独立に決定されたSRAM感度パラメータに基づく予測と良好な一致を示した。これらの結果は、2021年にD–D核融合中性子環境で実証された、スペクトルに基づくSEE予測手法の検証を、D–T核融合中性子場に拡張するものである。したがって、本研究の新規性は、新しいSEEモデルではなく、リアルタイム中性子分光法と独立したデバイス感度データを用いた、この完全な予測手法のD–T核融合環境における初の実験的検証にある。実験はまた、局所的なB4C遮蔽が熱中性子を吸収することでビット反転率を低減することを示しており、トカマクおよび加速器中性子環境において、このような遮蔽が電子機器の信頼性を向上させ得る条件について議論する。