In this paper, we evaluated electron temperature fluctuations by using a conditional sampling and a statistical phase detection method. These methods allow us to reconstruct probe I − V characteristics at each time delay; that is, we can extract electron temperature and ion saturation current fluctuations in high temporal resolution without complex electronic circuits. Our method was applied to two quasi-coherent fluctuations observed in a linear magnetized plasma device, PANTA. We observed spatiotemporal structures of electron temperature and ion saturation current fluctuations. The results revealed the amplitudes and phase relation between electron temperature and density fluctuations.
本論文では、条件付きサンプリング法と統計的位相検出法を用いて、電子温度揺動を評価した。これらの手法により、各時間遅延におけるプローブのI-V特性を再構成することができ、複雑な電子回路を用いることなく、高い時間分解能で電子温度およびイオン飽和電流の揺動を抽出することが可能となる。本手法を線形磁化プラズマ装置PANTAにおいて観測された2つの準コヒーレント揺動に適用した。電子温度およびイオン飽和電流揺動の時空間構造を観測し、その結果から電子温度揺動と密度揺動の間の振幅および位相関係が明らかになった。