The active beam scattering method was applied to ion temperature measurements in JT-60 plasmas. The ion temperature found was in reasonable agreement with that obtained from Doppler broadening of the Ti XXI and Ti XXII resonance lines in the temperature range of 1.5 to 10 keV. With the help of the scattering system, the central ion temperature of JT-60 plasmas during 40 keV and 70-75 keV NBI heating was measured. Higher ion temperature was obtained during 70 to 75 keV than during 40 keV NBI heating. These data and a possible explanation are presented. A numerical simulation of this diagnostic indicates that the ion temperature as deduced from the diagnostic is almost equal to the bulk temperature when the ratio of high energy ion component to the total ion stored energy is less than 0.3.
活性ビーム散乱法をJT-60プラズマにおけるイオン温度測定に適用した。得られたイオン温度は、1.5～10 keVの温度範囲において、Ti XXIおよびTi XXII共鳴線のドップラー広がりから得られたイオン温度と妥当な一致を示した。散乱システムを用いて、40 keVおよび70-75 keVのNBI加熱中のJT-60プラズマの中心イオン温度を測定した。40 keV NBI加熱中よりも70～75 keVのNBI加熱中の方が高いイオン温度が得られた。これらのデータと可能な説明を提示する。この診断法の数値シミュレーションは、高エネルギーイオン成分の全イオン蓄積エネルギーに対する比が0.3未満の場合、診断法から推定されるイオン温度がバルク温度とほぼ等しいことを示している。