A model is developed to calculate the impurity influx caused by induced radio-frequency (RF) sheaths near ion-cyclotron range of frequencies (ICRF) antennas, which accelerate ions to energies sufficient to sputter the Faraday screen and other adjacent material surfaces. The existence of several types of RF sheaths is discussed, and detailed models of Faraday-screen-gap and front-face sheaths are described which are relevant to the antenna geometry in the Joint European Torus (JET) experiment. Calculations of the local influx of metal impurities from the Faraday screen show good qualitative agreement with the observed dependence of the impurity influx in JET on phasing, magnetic field angle, and screen coatings, and the model provides a useful framework for understanding other aspects of the data. It is also shown that a great increase in the metal influx due to self-sputtering of the screen ('avalanche') can occur under certain conditions. However, the model calculations also demonstrate that proper antenna design can virtually eliminate the impurity influx from the screens.
ICRFアンテナ近傍の誘起された高周波シースによって引き起こされる不純物流入を計算するためのモデルが開発される。このシースは、ファラデーシールドやその他の隣接する材料表面をスパッタリングするのに十分なエネルギーまでイオンを加速する。数種類の高周波シースの存在が議論され、JET（共同欧州トーラス）実験におけるアンテナ形状に関連するファラデーシールドギャップおよび前面シースの詳細なモデルが記述される。ファラデーシールドからの局所的な金属不純物流入の計算結果は、JETにおける不純物流入の位相、磁場角度、およびシールドコーティングへの依存性として観測された結果と良好な定性的一致を示し、このモデルはデータの他の側面を理解するための有用な枠組みを提供する。また、特定の条件下では、シールドの自己スパッタリング（「アバランシェ」）による金属不純物流入の大幅な増加が生じ得ることが示される。しかしながら、モデル計算は、適切なアンテナ設計によりシールドからの不純物流入を実質的に排除できることも実証する。