AbstractA generic reflectometry is modelled as a device for launching and receiving radiation at a number of microwave frequencies, uniformly distributed over a specified bandwidth. The effect of density fluctuations is modelled as a phase error at each frequency. The phase distortion has a known correlation length in frequency space, allowing a semi-analytical prediction of the resultant error on the time delay. Specific techniques are compared to the generic model: frequency sweep, differential phase, AM and sine FM modulation. There is no significant difference between them and the model in their response to the same type of phase error. An implication of the model is that there are situations where profile details are unrecoverable by certain implementations of reflectometry on a short time scale. These arise when the phase fluctuations are strong and the phase correlation length short, conditions found in the plasma edge.
汎用リフレクトメトリは、指定された帯域幅にわたって一様に分布する多数のマイクロ波周波数において放射および受信を行う装置としてモデル化される。密度揺らぎの影響は、各周波数における位相誤差としてモデル化される。位相歪みは周波数空間において既知の相関長を有し、これにより時間遅延に対する結果的な誤差の半解析的予測が可能となる。特定の手法（周波数掃引、位相差、AMおよび正弦波FM変調）が汎用モデルと比較される。同一種類の位相誤差に対する応答において、これらの手法とモデルの間には有意な差はない。このモデルの含意として、短い時間スケールでの特定のリフレクトメトリ実装によってはプロファイル詳細が回復不能となる状況が存在することが挙げられる。これらの状況は、位相揺らぎが強く、位相相関長が短い場合に生じ、そのような条件はプラズマ端部に見られる。