A hot plasma can be analysed by means of soft-X-ray fluxes using various absorbers. In the first part of the paper, the method of calculation of the flux as a function of Te, Zeff, ne and their profiles is given. The problem of relativistic corrections in the evaluation of the Gaunt factor is also considered. As an example, in a 200-kA discharge in TFR, the measured fluxes are compared to those calculated for a Maxwellian electron distribution function. From this comparison, the electron temperature is determined and information on the impurity content in the plasma is obtained, in agreement with other independent measurements.
高温プラズマは、軟X線フラックスを様々な吸収体を用いて測定することにより解析することができる。本論文の第一部では、Te、Zeff、およびそれらの分布の関数としてのフラックスの計算法を示す。ガウント因子の評価における相対論的補正の問題も考察する。例として、TFRにおける200kA放電において、測定されたフラックスを、マクスウェル電子分布関数に対して計算されたフラックスと比較する。この比較から、電子温度が決定され、プラズマ中の不純物含有量に関する情報が得られるが、これらは他の独立した測定結果と一致する。