The response of the electron temperature profiles to changes in heating profile is investigated analytically and by transport code simulations. A heat conduction model with local empirical scalings of the electron thermal diffusivity χe is used. It is found that the Te-profile responds rather insensitively, owing to double radial integration of the heating power density. By scanning the target density and injection energy of neutral beam heated ASDEX plasmas it is shown that only small profile changes in the conductive electron heat flux are achieved. In density scans these changes are further diminished by the convective power loss. The theoretically predicted variation in Te(r)/Te(0) is correspondingly weak and does not exceed the measured profile change. The observed Te profile invariance is thus produced by local transport models with a diffusive electron heat flux proportional to dTe/dr. Consequently, it is not necessary to introduce a χe(r) which adjusts to the profile of the conductive electron heat flux or which non-linearly depends on the electron temperature gradient.
電子温度プロファイルの加熱プロファイルの変化に対する応答を、解析的および輸送コードシミュレーションによって調べた。電子熱拡散係数χeの局所経験則スケーリングを用いた熱伝導モデルを使用した。加熱パワー密度の二重動径積分により、Teプロファイルの応答はかなり鈍感であることがわかった。中性粒子ビーム加熱されたASDEXプラズマにおいて、目標密度と入射エネルギーを走査したところ、伝導性電子熱流束のプロファイル変化は小さいことが示された。密度走査では、これらの変化は対流性パワー損失によってさらに減少する。理論的に予測されるTe(r)/Te(0)の変化は対応して弱く、測定されたプロファイル変化を超えることはない。したがって、観測されるTeプロファイルの不変性は、dTe/drに比例する拡散性電子熱流束を持つ局所輸送モデルによって生成される。結果として、伝導性電子熱流束のプロファイルに適合するχe(r)や、電子温度勾配に非線形に依存するχeを導入する必要はない。