The response of the electron temperature profile shape to variations of the electron heating and density profiles is investigated in different confinement regimes. It is shown that the changes in rTe = -Te/(dTe/dr) exceed the measurement error if the shape of the electron heat diffusivity χe(r) is kept fixed. The observed constancy of rTe(r) in the outer half of the plasma is incompatible with such a fixed χe(r) shape, i.e., a Te profile constraining mechanism must be present. Local transport laws of the form χe varies as rTe-α with α ≳ 4 and χe ∝ (dTe/dr)α with α ⩾ 2 yield the experimental stiffness of the Te(r) shape but conflict with empirical χe scalings. These results support the model of a self-organizing and adjusting χe(r) causing Te profile invariance
電子密度分布と電子加熱の変動に対する電子温度分布形状の応答を、異なる閉じ込め状態において調べた。電子熱拡散係数χe(r)の形状を固定した場合、rTe = -Te/(dTe/dr)の変化は測定誤差を超えることが示される。プラズマの外側半分におけるrTe(r)の観測される一定性は、そのような固定されたχe(r)形状とは両立せず、すなわちTe分布を拘束する機構が存在しなければならない。χeがrTe-α（α ≳ 4）に比例する、およびχe ∝ (dTe/dr)α（α ⩾ 2）の形の局所輸送則は、Te(r)形状の実験的な剛性をもたらすが、経験的なχeスケーリングとは矛盾する。これらの結果は、Te分布の不変性を引き起こす自己組織化的で適応的なχe(r)のモデルを支持するものである。