Recent experiments in the RTP tokamak have shown that the electron temperature, Te, profile in EC heated L mode discharges can have only a small number of distinct profile shapes, depending on the location of the additional heating. The sharp transitions between the profile shapes are associated with the loss or gain of a low rational q surface. These observations suggest that the electron thermal diffusivity χe is a direct function of the safety factor q, with alternating layers of low and high χe. It is shown that such a model not only excellently describes the distinct profile shapes but also predicts other, observed but so far unexplained, phenomena, such as sharp off-axis maxima of Te observed with off-axis heating at specific radii.
最近のRTPトカマクにおける実験により、EC加熱されたLモード放電における電子温度Teのプロファイルは、追加加熱の位置に依存して、わずか数種類の明確なプロファイル形状しか取り得ないことが示された。プロファイル形状間の急激な遷移は、有理面qの損失または獲得と関連している。これらの観測結果は、電子熱拡散係数χeが安全係数qの直接的な関数であり、低いχeと高いχeの層が交互に存在することを示唆している。このモデルは、明確なプロファイル形状を優れて記述するだけでなく、特定の半径におけるオフ軸加熱で観測されるTeの鋭いオフ軸最大値など、これまで観測されているものの未説明であった他の現象も予測することが示される。