Absorber foils have been installed in the TFTR X-Ray Imaging System to permit measurement of the electron temperature (Te) along 10–30 chords, spaced at 5–12.5 cm, with a time resolution of less than 100 μs. The technique uses the ratio of X-ray fluxes transmitted through two different foils, which depends mainly on Te. Simulations show that strong impurity line radiation can distort this ratio. Good accuracy is obtained with simple beryllium filters, provided that impurity corrections are incorporated in the analysis, taking line intensities from the X-ray pulse height analysis diagnostic. The paper presents a description of modelling calculations and a comparison of Te values from this diagnostic with data from X-ray pulse height analysis, electron cyclotron emission and Thomson scattering diagnostics. Several applications of the absorber foil Te diagnostic on TFTR are discussed. In particular, it was found in compression discharges that unusually large internal sawtooth disruptions occurred during or shortly after compression. The large sawteeth caused a redistribution of the plasma energy and may be partly responsible for deviations from adiabatic scaling.
吸収フォイルがTFTR X線イメージングシステムに設置され、10～30チャンネル（間隔5～12.5 cm）に沿って電子温度（Te）を、時間分解能100 μs未満で測定できるようになった。この手法は、2種類の異なるフォイルを透過したX線フラックスの比を用いており、この比は主にTeに依存する。シミュレーションにより、強い不純物放射線がこの比を歪める可能性があることが示された。単純なベリリウムフォイルを用いれば、X線パルス波高分析診断から得られる線強度を考慮して不純物補正を解析に組み込むことで、良好な精度が得られる。本論文では、モデリング計算の説明と、この診断法から得られたTe値と、X線パルス波高分析、電子サイクロトロン放射、トムソン散乱の各診断法から得られたデータとの比較を示す。TFTRにおける吸収フォイルTe診断法のいくつかの応用について論じる。特に、圧縮放電において、圧縮中またはその直後に異常に大きな内部ソート（sawtooth）擾乱が発生することが見出された。この大きなソート擾乱によりプラズマエネルギーの再分布が生じ、断熱スケーリングからのずれの一因となっている可能性がある。