The electron density profile has been analysed using the maximum entropy method (MEM) in signal processing of the X-mode microwave reflectometry carried out in the GAMMA 10 tandem mirror. Although the detected reflectometry signals included the noise components due to density fluctuations in addition to signal components, the signal components were spectrally separated from the noise components using MEM. Reconstructed density profiles are consistent with that obtained from the millimetre wave interferometry measurements assuming a parabolic profile. The present MEM analysis will also be applicable to microwave reflectometry experiments on tokamaks or stellarators where signal levels were significantly affected by plasma movement or density perturbations.
GAMMA 10 タンデムミラーにおいて実施されたXモードマイクロ波反射測定の信号処理において、最大エントロピー法(MEM)を用いて電子密度分布が解析された。検出された反射測定信号には、信号成分に加えて密度揺動によるノイズ成分が含まれていたが、MEMを用いて信号成分はノイズ成分からスペクトル的に分離された。再構成された密度分布は、放物線分布を仮定したミリ波干渉測定から得られた分布と一致する。本MEM解析は、プラズマの移動や密度摂動によって信号レベルが影響を受けたトカマクやステラレータにおけるマイクロ波反射測定実験にも適用可能である。