Recent experimental results and plasma edge stability studies of ELMs are presented for both H-mode and optimized shear (OS) plasmas in JET. High triangularity (δ~0.5) ELMy \mbox{H-mode} experiments in JET achieved simultaneously high confinement (HIPB(y,2) = 1) and high density (~0.9 nGR). At high pedestal density (~1.1nGR), an anomalous decrease of type I ELMs frequency and energy losses per ELM was observed. A specific for high triangularity and high density (δ~0.5 and ne~1.1nGR) MHD activity with broad-band frequency spectrum (<30 kHz) between type I ELMs was associated with type II-like ELMs which were observed in JET at rather low q95~3, compared to other machines. The coupled JETTO-MISHKA codes transport and MHD stability analysis for these scenarios confirmed a possible access to the second stability zone for the ballooning modes and stability for peeling modes at the same time. The second part of the paper is devoted to the experimental comparative study of the transition from type I to type III ELMs , carried out in the same plasma configurations for standard ELMy \mbox{H-modes} and OS plasmas. The type III to type I ELM transition in OS discharges is found to deviate strongly from the known power scaling for this transition, derived for standard H-mode plasmas. In fact, type III ELMs are still observed at much higher power in OS scenarios, and this experimental observation suggests that larger current fraction at the plasma edge in OS discharges, compared to standard H-mode could prevent the type III to I ELMs transition.
JETにおけるHモードおよび最適化シア（OS）プラズマのELMに関する最近の実験結果とプラズマ端部安定性研究を提示する。JETにおける高三角形度（δ〜0.5）ELMy Hモード実験では、高閉じ込め（HIPB(y,2) = 1）と高密度（〜0.9 nGR）が同時に達成された。高ペデスタル密度（〜1.1nGR）では、タイプI ELMの周波数およびELMあたりのエネルギー損失の異常な減少が観測された。高三角形度および高密度（δ〜0.5およびne〜1.1nGR）に特有の、タイプI ELM間における広帯域周波数スペクトル（<30 kHz）を持つMHD活動は、他の装置と比較してJETにおいてかなり低いq95〜3で観測されたタイプII様ELMと関連付けられた。結合されたJETTO-MISHKAコードによる輸送およびMHD安定性解析は、これらのシナリオにおいてバルーニングモードの第二安定領域への到達可能性と、同時にピーリングモードの安定性を確認した。論文の後半では、標準的なELMy HモードおよびOSプラズマの同一プラズマ配位で実施された、タイプIからタイプIII ELMへの遷移に関する実験的比較研究に充てられる。OS放電におけるタイプIIIからタイプI ELM遷移は、標準的なHモードプラズマから導出されたこの遷移に関する既知のパワースケーリングから大きく逸脱することが見出された。実際、OSシナリオではタイプIII ELMがはるかに高いパワーでも依然として観測されており、この実験的観測は、標準的なHモードと比較したOS放電におけるプラズマ端部でのより大きな電流割合が、タイプIIIからIへのELM遷移を妨げる可能性があることを示唆している。