SXR cross-sectional distributions measured in the European reversed field pinch (RFP) experiment RFX by means of a tomographic diagnostic are described. Various reconstruction techniques have been compared. A correction technique to minimize the systematic effect due to the non-identical thicknesses of the material filters has been developed. A number of experimental situations have been explored, and a study of the correlation between the MHD and SXR properties of the plasma has been made. The analysis concentrates both on standard discharges and on the recently discovered quasi-single-helicity states, whose signature is the growth of a sizeable m = 1 structure in the emissivity distributions. Detailed imaging of the plasma in these conditions is presented.
SXR断面分布は、欧州の逆転磁場ピンチ実験RFXにおいてトモグラフィー診断により測定されたものである。様々な再構成手法が比較された。材料フィルターの厚さの不均一性による系統的影響を補正する手法が開発された。多くの実験状況が調査され、プラズマのMHD特性とSXR特性の間の相関に関する研究が行われた。解析は、標準的な放電と、最近発見された準単一ヘリシティ状態の両方に焦点を当てており、後者の特徴は、放射率分布における顕著なm = 1構造の成長である。これらの条件下でのプラズマの詳細なイメージングが提示される。