X-ray emission fluctuations from the HBTX1A reversed field pinch have been investigated with an array of silicon surface barrier diodes using statistical analysis techniques. Despite their apparent randomness a new correlation technique involving all the signals has been used to identify the dominant activity at frequencies <or approximately=20 kHz as global modes with poloidal mode number m=0 and 1. This technique also allows the reconstruction of the radial profile of the modes and the calculation of their power spectrum. By using single detectors displaced in the toroidal direction it is shown that the m=0 instabilities have long toroidal wavelength (n approximately 0) and do not propagate in this direction, whereas the m=1 modes have n>>1. Local turbulence becomes the dominant component at higher frequencies; even so correlation lengths parallel to B are much longer than across. Correlating the X-ray diodes with magnetic edge coils enables a direct comparison of the two types of fluctuations and shows that one of the m=0 modes propagates radially outwards.
HBTX1A逆転磁場ピンチからのX線放出変動を、シリコン表面障壁ダイオードのアレイを用いて調査した。それらの見かけ上のランダム性にもかかわらず、全ての信号を含む新たな相関手法を用いて、周波数<約20 kHzにおける支配的な活動が、ポロイダルモード数m=0およびm=1を持つ大域的モードであることを特定した。この手法により、モードの動径方向プロファイルの再構成と、そのパワースペクトルの計算も可能となる。トロイダル方向に変位した単一検出器を用いることで、m=0不安定性は長いトロイダル波長（n≈0）を持ち、この方向には伝播しないことが示される一方、m=1モードはn>>1を持つことが示される。より高い周波数では、局所的な乱流が支配的となる。それでもなお、Bに平行な相関長は、Bに垂直な相関長よりもはるかに長い。X線ダイオードと磁気エッジコイルの相関を取ることにより、2種類の変動の直接比較が可能となり、m=0モードの1つが動径方向外向きに伝播することが示される。