The method of using internal magnetic surface information from soft x-ray (SXR) measurements to facilitate equilibrium reconstruction is explored. It is shown that useful information about the shape of the safety-factor q profile in DIII-D can be generally determined from the information inferred from surfaces of constant SXR emissivity. Comparisons of magnetic surfaces and the q profile reconstructed using external magnetic and SXR data against those using magnetic and motional Stark effect (MSE) data are presented. The reconstructed results using SXR and external magnetic data are found to reasonably agree with those derived from MSE and external magnetic data. The choice of an appropriate number of fitting parameters to reconstruct the q profile is also investigated.
軟X線（SXR）測定から得られる内部磁気面情報を用いて平衡再構成を容易にする手法を探求する。DIII-Dにおける安全係数q分布の形状に関する有用な情報が、一定のSXR発光率の面から推測される情報から一般的に決定できることが示される。外部磁気データとSXRデータを用いて再構成された磁気面およびq分布と、磁気データとモーションル・スターク効果（MSE）データを用いて再構成されたものを比較した結果が提示される。SXRと外部磁気データを用いた再構成結果は、MSEと外部磁気データから導出された結果と合理的に一致することが見出された。また、q分布を再構成するための適切な数のフィッティングパラメータの選択についても調査される。