The drift wave instability in conditions of hollow temperature profiles is studied. It is found that the ubiquitous mode (UM) is triggered by a positive electron temperature gradient (ETG), while the trapped electron mode (TEM) is triggered by a negative ETG. The threshold of ETG amplitude for UM excitation is lower than that for TEM, and the UM threshold is consistent with recent experimental results from EAST. Compared with TEM, UM exhibits several distinct properties: it becomes more important and dominant in the short-wavelength regime; its excitation depends more on the ion and electron density gradient; and it is significantly more stabilized by ion temperature gradients. Additionally, the effects of magnetic shear and the fraction of trapped electrons are also studied.
中空温度分布の条件下でのドリフト波不安定性が研究される。正の電子温度勾配(ETG)によってユビキタスモード(UM)が励起される一方、負のETGによって捕捉電子モード(TEM)が励起されることが見出された。UM励起に対するETG振幅の閾値はTEMのそれよりも低く、そのUM閾値はEASTからの最近の実験結果と一致する。TEMと比較して、UMはいくつかの明確な特性を示す：短波長領域でより重要かつ支配的になる；その励起はイオンおよび電子密度勾配により強く依存する；そしてイオン温度勾配によって有意に強く安定化される。さらに、磁気シアと捕捉電子の割合の影響も研究される。