The characteristics of high- beta , low-q disruptions have been studied in PBX-M, a device with a nearby conducting shell. The coupling between the wall and the plasma was varied by choosing different plasma shapes, including nearly circular plasmas, D-shaped plasmas and bean-shaped plasmas (indented on the midplane), and by increasing the effective coverage of the plasma by the shell. Disruption precursors were observed to have a strong dependence on the coupling between the plasma and the shell. Measured mode growth times vary from between several times the Alfven time-scale (~100 mu s) to the L/R time-scale of the wall (~20 ms). The behaviour of observed disruption precursors is interpreted in terms of the resistive wall mode theory of ideal plasmas, and a detailed calculation of the stability of a strongly coupled bean configuration using the NOVA-W linear stability code is presented. The experimental observations are in good agreement with the theoretical predictions
PBX-M（近接導体壁を有する装置）における高ベータ・低q擾乱の特性を研究した。プラズマと壁の結合は、ほぼ円形プラズマ、D字形プラズマ、およびベーン形プラズマ（中間面でくびれた形状）を含む異なるプラズマ形状を選択し、さらに壁によるプラズマの有効被覆率を増加させることによって変化させた。擾乱前駆体は、プラズマと壁の結合に強く依存することが観測された。測定されたモード成長時間は、アルフヴェン時間スケール（約100μs）の数倍から、壁のL/R時間スケール（約20ms）までの範囲で変化した。観測された擾乱前駆体の挙動は、理想プラズマの抵抗性壁モード理論に基づいて解釈され、NOVA-W線形安定性コードを用いた強結合ベーン配位の安定性に関する詳細な計算が提示された。実験観測結果は理論予測と良好な一致を示した。