Toroidicity-induced Alfvén eigenmodes (TAE) were studied systematically in low-q discharges in JT-60U. Low-n TAE modes appeared outside the q = 1 surface at a low internal inductance (li), while high-n multiple TAE modes appeared inside the q = 1 surface at high internal inductance. In addition, the low-n multiple TAE modes were observed outside the q = 1 surface in very low-li plasmas , while the bi-directional TAE modes were observed inside the q = 1 surface in high-li and relatively high electron density plasmas . The high-n multiple TAE modes observed inside the q = 1 surface are much more harmful for energetic ion confinement than the low-n TAE modes observed outside the q = 1 surface.
トロイダリティ誘起アルヴェン固有モード（TAE）を、JT-60Uにおける低q放電で系統的に研究した。低n TAEモードは、低内部インダクタンス（li）においてq=1有理面の外側に出現した一方、高n多重TAEモードは、高内部インダクタンスにおいてq=1有理面の内側に出現した。さらに、低n多重TAEモードは、非常に低いliのプラズマにおいてq=1有理面の外側で観測された一方、双方向伝播TAEモードは、高いliおよび比較的高い電子密度のプラズマにおいてq=1有理面の内側で観測された。q=1有理面の内側で観測された高n多重TAEモードは、q=1有理面の外側で観測された低n TAEモードよりも、高エネルギーイオン閉じ込めに対してはるかに有害である。