AbstractTemporally and spatially resolved profiles of electron temperatures in the HT-7 superconducting tokamak are measured during a single shot with a soft X-ray spectrometer system. The plasma soft X-ray emission (2–30 keV) was measured by the Si(Li) detector system with an energy resolution of 300 eV. This diagnostic system provides a useful tool to obtain the HT-7 electron temperature profiles with good time and spatial resolutions.
HT-7超伝導トカマクにおける電子温度の時間・空間分解プロファイルが、軟X線分光計システムを用いて一回の放電中に測定された。プラズマ軟X線放射（2–30 keV）は、エネルギー分解能300 eVのSi(Li)検出器システムによって測定された。この診断システムは、HT-7の電子温度プロファイルを良好な時間・空間分解能で取得するための有用なツールを提供する。