The Pfirsch-Schlüter current and pressure profiles are estimated from magnetic measurements for high density electron cyclotron heating (ECH) plasmas (e = (2−3) × 1013 cm−3, Te0 = 200-400 eV, ⟨β⟩ ≲ 0.5%) in Heliotron DR. The small vertical field (≲ 5 G) due to the Pfirsch-Schlüter current is picked up by two kinds of magnetic loops which are set outside the vacuum chamber above the magnetic axis. The field is measured successfully because of the smallness of the unidirectional toroidal current in the 'currentless' ECH plasma and the smallness of the vertical component of the vacuum heliotron field at the loop positions. The pressure profile is estimated by comparing these data with those from diamagnetic measurements. The profile factor s, defined by p = p0 [ 1 − (r/a)2 ]s, is about two in macroscopically stable plasmas. A fast loss of plasma energy from the centre to the periphery is observed during the onset of the MHD instability. This method of measuring the pressure profile shape is simple and useful for heliotron type devices.
Pfirsch-Schlüter電流と圧力プロファイルは、ヘリオトロンDRにおける高密度電子サイクロトロン加熱（ECH）プラズマ（e = (2−3) × 10¹³ cm⁻³、Te0 = 200-400 eV、⟨β⟩ ≲ 0.5%）の磁気測定から推定された。Pfirsch-Schlüter電流による小さな垂直磁場（≲ 5 G）は、磁気軸の上方で真空容器の外側に設置された2種類の磁気ループによって検出された。この磁場は、「無電流」ECHプラズマにおける一方向トロイダル電流の小ささと、ループ位置における真空ヘリオトロン磁場の垂直成分の小ささにより、首尾よく測定された。圧力プロファイルは、これらのデータをダイアマグネティック測定のデータと比較することによって推定された。p = p0 [ 1 − (r/a)² ]s で定義されるプロファイル因子 s は、巨視的に安定なプラズマでは約2であった。MHD不安定性の発生中に、プラズマエネルギーが中心から周辺部へ急速に失われることが観測された。圧力プロファイル形状を測定するこの方法は、ヘリオトロン型装置にとって簡便かつ有用である。