Using the CLT code, the resistivity dependence of the reconnection rate during the explosive phase at various separations of two rational surfaces of m/n = 3/1 double tearing mode is investigated quantitatively. Our study focuses on the explosive reconnection process where the exchange of island positions takes place and no secondary island forms. The negative dependence of explosive reconnection rate on resistivity in low resistivity and the systematic study of the effect of the separation on the resistivity dependence in high resistivity have been studied for the first time. The negative dependence is qualitatively different from the results in some relative studies where it usually exhibits a positive dependence on the resistivity or is independent of the resistivity. The negative dependence in two regions with a low resistivity, with a high resistivity and a large separation is caused by different reasons: one is the thickness of the current sheet, and the other is the separation.
CLTコードを用いて、m/n = 3/1 の二重テアリングモードの2つの有理面の様々な分離距離における爆発的位相中のリコネクション率の抵抗率依存性を定量的に調べた。本研究は、島の位置の交換が起こり、二次島が形成されない爆発的リコネクション過程に焦点を当てる。低抵抗率における爆発的リコネクション率の抵抗率に対する負の依存性、および高抵抗率における抵抗率依存性に対する分離距離の影響の系統的研究は、初めて行われた。負の依存性は、関連するいくつかの研究における結果、すなわち通常は抵抗率に対して正の依存性を示すか、または抵抗率に依存しない結果とは質的に異なる。低抵抗率の領域、および高抵抗率かつ大きな分離距離の領域における負の依存性は、異なる理由によって引き起こされる：1つは電流シートの厚さであり、もう1つは分離距離である。