Measurements of the electron heat diffusivity χ of the JET plasma in a wide variety of discharge conditions are reported. χ is deduced from heat pulse propagation analysis, using the sawtooth collapse as the perturbation of the temperature profile. The measurements of the electron temperature are performed with a 12-channel ECE polychromator. In limiter discharges, scans of plasma current, density, input power and Zeff have been studied. It is shown that χ is independent of density and input power, while a clear dependence on Zeff and on the electron temperature Te is demonstrated. The scaling provides a good fit to the JET data. xhp denotes the normalized radius where χ is measured. This radius is coupled to qa. As a result, the xhp-dependence only parameterizes the combined effect of the plasma current and the profile shapes of temperature, density, safety factor, etc. Various transport models are discussed in the light of this scaling. Also, χ measurements in the Ohmic, L-mode and H-mode phases of X-point plasmas are reported. The χ values are on average 20% higher in the H-mode than in the Ohmic phase. In one discharge where χ was measured in all three phases, no significant changes could be demonstrated.
JETプラズマにおける多様な放電条件下での電子熱拡散率χの測定結果が報告されている。χは、温度分布の摂動として鋸歯状波崩壊を用いた熱パルス伝播解析から求められた。電子温度の測定は、12チャンネルのECEポリクロメータを用いて行われた。リミタ放電において、プラズマ電流、密度、入力電力、およびZeffの走査が行われた。χは密度と入力電力には依存しないが、Zeffと電子温度Teには明確な依存性を示すことが明らかにされた。スケーリング則はJETのデータを良好に再現する。xhpはχが測定される規格化半径を示す。この半径はqaと関連している。その結果、xhp依存性は、プラズマ電流と温度、密度、安全係数などの分布形状の複合効果をパラメータ化しているにすぎない。このスケーリング則に照らして、さまざまな輸送モデルが考察された。また、X点プラズマのオーミック相、Lモード相、Hモード相におけるχの測定結果も報告されている。χの値は、オーミック相と比較してHモード相では平均して20%高い。3つの相すべてでχが測定された1回の放電では、有意な変化は確認されなかった。