Tungsten erosion in H-mode plasmas is quantified in the outer divertor of the JET ITER-Like Wall environment with optical emission spectroscopy on the 400.9 nm atomic neutral tungsten line. A novel cross-calibration procedure is developed to link slow, high spectral resolution spectroscopy and fast photomultiplier tube measurements in order to obtain ELM-resolved photon fluxes. Inter-ELM W erosion is exclusively impurity sputtering by beryllium because of the high sputter threshold for deuterons. Low beryllium concentrations resulted in low inter-ELM sputter yields of around 10−4 with respect to the total flux.Intra-ELM W sources, which dominate the total W tungsten source, vary independently from the inter-ELM source. The amount of W erosion could only be partly explained by beryllium sputtering, indicating that during ELMs sputtering by fuel species is important. The total W outer divertor source is found to linearly increase with the power crossing the separatrix, whilst excessive divertor fueling can break this trend.The influence of the W source rate on the tungsten content of the core plasma is investigated using soft x-ray emission to determine the tungsten content. At low source rates the content is determined by the source, but at higher source rates, other phenomena determine the total tungsten content. Indications of impurity flushing by ELMs is seen at ELM frequencies above approximately 40 Hz. The inner/outer divertor asymmetry of the W source during ELMs is investigated, and the outer divertor W source is larger by a factor of .
Hモードプラズマにおけるタングステン侵食は、JET ITER-Like Wall環境の外側ダイバータにおいて、400.9 nmの原子状中性タングステン線を用いた発光分光法により定量化される。新規の相互較正手順が、低速・高スペクトル分解分光法と高速光電子増倍管測定を関連付けるために開発され、ELM分解された光子フラックスを得る。ELM間のW侵食は、重陽子に対するスパッタリング閾値が高いため、ベリリウムによる不純物スパッタリングのみである。低いベリリウム濃度は、全フラックスに対して約10−4の低いELM間スパッタ収量をもたらした。全Wタングステン源を支配するELM内W源は、ELM間源とは独立に変動する。W侵食量はベリリウムスパッタリングによって部分的にしか説明できず、ELM中は燃料種によるスパッタリングが重要であることを示している。全W外側ダイバータ源は、セパラトリックスを横切る電力とともに線形に増加することが見出されたが、過剰なダイバータ燃料供給はこの傾向を破る可能性がある。W源速度がコアプラズマのタングステン含有量に及ぼす影響は、軟X線放射を用いてタングステン含有量を決定することにより調査される。低い源速度では含有量は源によって決定されるが、より高い源速度では、他の現象が全タングステン含有量を決定する。ELMによる不純物フラッシングの兆候が、約40 Hz以上のELM周波数で見られる。ELM中のW源の内側/外側ダイバータ非対称性が調査され、外側ダイバータW源は、 倍大きい。