Impurity sources and confinement times in the central cell of TMX were examined by studying the extreme ultraviolet (EUV) emissions from intrinsic and injected impurities. Impurity ions from gases puffed radially toward the central-cell plasma showed very little radial penetration into the plasma. The confinement times of highly ionized intrinsic and injected impurities in the central cell were of the order of or less than the deuterium ion confinement times; the ambient density ratios of O V to O VI indicate overall O VI confinement times near the axis of 0.3 to 3 ms. Impurities introduced into the central-cell plasma were not detected in either end-cell plasma, indicating that axial losses of impurities from the central cell were small. This result agrees with theoretical calculations of the axial confinement times and suggests that most of the losses were radial. The radial flux of impurity ions determined from the measured radial profiles of the ambient impurity ion densities is primarily outward; the magnitude of these fluxes also implies a short confinement time for impurity ions.
TMXの中央セルにおける不純物源と閉じ込め時間を、内在性および注入された不純物からの極端紫外（EUV）放射を研究することにより調べた。中央セルプラズマに向かって半径方向にパフされたガスからの不純物イオンは、プラズマへの半径方向の浸入が非常に小さいことを示した。中央セルにおける高電離の内在性および注入不純物の閉じ込め時間は、重水素イオンの閉じ込め時間と同程度かそれ以下であった。O V 対 O VI の周囲密度比は、軸付近での全体的な O VI 閉じ込め時間が 0.3 から 3 ms であることを示している。中央セルプラズマに導入された不純物は、いずれの端セルプラズマでも検出されず、中央セルからの不純物の軸方向損失が小さかったことを示している。この結果は、軸方向閉じ込め時間の理論計算と一致し、損失の大部分が半径方向であったことを示唆している。周囲の不純物イオン密度の測定された半径方向プロファイルから決定された不純物イオンの半径方向フラックスは、主に外向きであり、これらのフラックスの大きさは、不純物イオンの短い閉じ込め時間も示唆している。